NS老化测试系统

序号    参数    规格
产品简介    本产品能实现基于Die和COC的NS级高功率的激光驱动验证；可调的脉宽和占空比，大电流和高压的脉冲输出驱动；PS级的脉冲上升/下降沿测试；NS驱动的LIV扫描    
应用领域    VCSEL, TOF等LiDAR，AR/VR类应用芯片的研究和ORT验证    
优势特点    超短脉冲和高功率的驱动；可调的脉宽和占空比；实现NS级别的LIV扫描；    
产能    系统层数    4层
    系统产能    4层 * 8抽屉 * 10DUT = 320 DUT
温度控制        抽屉电加热独立控温
    温度范围    40℃～100℃（可以根据客户需求定制）
    控温分辨率    0.1℃
    温度精度    0.1℃
    温度均匀度    ±1.0℃
    温度稳定性    0.5℃
    升温时间    > 10 ℃ /min
驱动能力    脉宽    10ns-10us
    频率    0.01Hz – 500KHz
    占空比    0.01%-50%
    驱动电压    0-60V
    驱动电流    0-40A
    脉冲光功率    0~100W